首页» 仪器设备

扫描电镜

所属单位

电站设备状态监测与控制教育部重点实验室

设备编号

20063980

设备名称

扫描电镜

英文名称

Scanning electron microscopes

设备别名

型号规格

JSM-6490LV

生产厂商

日本电子株式会社

产地国家

日本

设备分类号

03060301

设备价值

195万元

生产日期

2006.12

购买日期

2006.12

运行情况

正常运行

开放时间

 

存放地址

教四楼C220

收费标准

120~150元/小时

负责人

职称

电话

电子邮箱

袁晓娜

工程师

010-61773940

yxn_1979@163.com

主要用途

扫描电镜(SEM)可应用于材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、

化学材料等领域,进行材料的微观形貌、组织、成分分析。

 

 

技术指标

高真空模式分辨率:  3.0nm@30KV WD=8mm
低真空模式分辨率:  4.0nm@30KV WD=5mm

放大率:     x5至x300000
低真空度: 1to270Pa,高、低真空切换

功能特色

微区形貌与成分分析相结合(轻元素除外)

放大倍率范围大  

分辨本领高

景深大(提高约数百倍)

更加清晰鲜明的图像

5轴马达大样品室,全自动真空控制系统

使用简便

 

 

应用范围

各种材料的形貌组织观察

金属材料断口分析和失效分析

材料实时微区成分分析

元素定量、定性成分分析

快速的多元素面扫描和线扫描分布测量

晶体/晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析

晶体、晶粒取向测量

 

 

 

 

 

主要附件

英国牛津仪器能谱仪

英国牛津仪器电子背散射衍射探测器

 

 

备注

测试仪器